一、简述:
heleex e8是一款通用型能量色散型x射线荧光光谱仪(edxrf);其核心光路系统集合国内外几十年edxrf尖端技术,核心部件采用美国进口,软件算法采用美国edxrf前沿技术,仪器所用标准样品均有第三方检查机构报告; heleex e8精密度、准确度、检出限等技术参数全面超越国内外同类仪器。目前heleex e8系列产品已广泛应用于rohs、无卤、镀层测厚、合金分析、贵金属分析、玩具、皮革等领域。
二、产品规格及技术特点
2.1、仪器规格:
? 外形尺寸 :380 mm x 510mm x 365 mm (长x宽x高)
? 样品仓尺寸:360mm×330 mm ×50 mm (长x宽x高)
? 仪器重量 :33.5kg
? 供电电源 :ac220v/ 50hz
? 大功率 :330w
? 工作温度 :15-30℃
? 相对湿度 :≤85%,不结露
2.2、仪器特点:
? 外形特点:
e 仪器结构采用人体工程学设计,仪器两侧按成人手臂长度设计,方便移动、搬运。
e 上盖倾斜6度角,寓意对客户的尊重。
e 表面采用高档汽车喷漆工艺,采用宝蓝、雅致白搭配,蓝色代表科技,白色代表圣洁,寓意对科学的敬仰。
? 辐射防护:
e 样品盖镶嵌铅板屏蔽x射线。
e 辐射标志警示。
e 迷宫式结构,防止射线泄漏。
e 安全连锁设计;测试过程中误打开样品盖时,电路0.1μs快速切断x射线。
e 仪器经第三方检测,x射线剂量率完全符合gb18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》。
? 硬件技术:
e 超短光路设计:提高无卤检测分辨率,提高样品分析效率,降低光管功率,延长仪器使用寿命。
e 模块化准直器,根据分析元素,配备不同材质准直器,从而降低准直器对分析元素的影响,提高元素分辨率。
e 空气动力学设计,加速光管冷却,有效降低仪器内部温度;静音设计。
e 电路系统符合emc、fcc测试标准。
e 快拆卸样品台,换薄膜更方便。
? 软件技术:
e 分析元素:na~u之间元素。
e 分析时间:60~400秒。
e 配置rohs检测分析模型,无卤分析模型。
e 软件界面简洁,模块化设计,功能清晰,易操作。
e heleex ed workstation v3.0软件拥有数据一键备份,一键还原功能,保护用户数据安全。
e heleex ed workstation v3.0根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试精准度。
e heleex ed workstation v3.0配备开放式分析模型功能,客户建立自己的工作模型。
三、仪器硬件配置
3.1、探测器
? 类型:si-pin探测器(采用原装风进口高性能电致冷半导体探测器)
? be窗厚度:1mil
? 晶体面积:25mm2
? 优秀分辨率:149ev
? 信号处理系统dp5
3.2、x射线管
? 电 压 :0~50kv
? 大电流 :2.0ma
? 大功率 :50w
? 靶 材 :mo
? be窗厚度 :0.5mm
? 使用寿命 :大于2万小时
3.3、高压电源
? 输出电压:0~50kv
? 灯丝电流:0~2ma
? 大功率:50w
? 纹波系数:0.1%(p-p值)
? 8小时稳定性:0.05%
3.4、摄像头
? 微焦距
? 免驱动
? 500万像素
3.5、准直器、滤光片
? 快拆卸准直器、滤光片系统
? 多种材质准直器
? 光斑大小φ0.7mm、φ1.2mm、φ3.0mm、φ5.0mm
? 多种滤光片、准直器组合,软件自动切换
3.6、其他配件
进口高性能开关电源
进口低噪声、大风量风扇
四、软件配置
? 软件名称:heleex ed workstation v3.0。
? 应对指令:rohs检测(pb、cd、hg、cr、br)、无卤检测(br、cl)。
? 开放式分析模型。
? 多种数据算法,根据不同基体样品,配备不同算法,提高仪器测试精准度。
? 数据一键备份、一键还原,增加数据安全性。
? 操作界面简洁,使用方便。
? 软件帮助功能。
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