镀层测厚仪产品规格及技术特点 1、仪器规格: ? 外形尺寸 ：380 mm x 510mm x 365 mm （长x宽x高） ? 样品仓尺寸 ：360mm×330 mm×50 mm （长x宽x高） ? 仪器重量 ：33.5kg ? 供电电源 ：ac220v/ 50hz ? 大功率 ：330w ? 工作温度 ：15-30℃ ? 相对湿度 ：≤85%，不结露 2、镀层测厚仪器特点： ? 外形特点： e 仪器结构采用人体工程学设计，仪器两侧按成人手臂长度设计，方便移动、搬运。 e 上盖倾斜6度角，寓意对客户的尊重。 e 样品盖采用铅玻璃防辐射技术，在保证操作人员安全的前提下，方便观察样品； e 表面采用高档汽车喷漆工艺，采用宝蓝、雅致白搭配，蓝色代表科技，白色代表圣洁，寓意对科学的敬仰。 ? 辐射防护： e 样品盖镶嵌铅板、铅玻璃屏蔽x射线。 e 辐射标志警示。 e 迷宫式结构，防止射线泄漏。 e 安全连锁设计；测试过程中误打开样品盖时，电路0.1μs快速切断x射线。 e 仪器经第三方检测，x射线剂量率完全符合gb18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》。 ? 硬件技术： e 超短光路设计：提高无卤检测分辨率，提高样品分析效率，降低光管功率，延长仪器使用寿命。 e 模块化准直器，根据分析元素，配备不同材质准直器，从而降低准直器对分析元素的影响，提高元素分辨率。 e 空气动力学设计，加速光管冷却，有效降低仪器内部温度；静音设计。 e 电路系统符合emc、fcc测试标准。 e 快拆卸样品台，换薄膜更方便。 ? 软件技术： e 分析元素：na~u之间元素。 e 分析时间：60~400秒。 e 配置rohs检测分析模型、无卤分析模型和镀层厚度分析模型。 e 软件界面简洁，模块化设计，功能清晰，易操作。 e heleex ed workstation v3.0软件拥有数据一键备份，一键还原功能，保护用户数据安全。 e heleex ed workstation v3.0根据不同基体样品，配备三种算法，增加样品测试精准度。 e heleex ed workstation v3.0配备开放式分析模型功能，客户建立自己的工作模型。 镀层测厚仪器硬件配置 1、探测器 ? 类型：si-pin探测器（采用原装风进口高性能电致冷半导体探测器） ? 进口探测器 ? be窗厚度：1mil ? 晶体面积：25mm2 ? 优秀分辨率：149ev ? 信号处理系统dp5 2、x射线管 ? 电 压 ：0~50kv ? 大电流 ：2.0ma ? 大功率 ：50w ? 靶 材 ：mo ? be窗厚度 ：0.5mm ? 使用寿命 ：大于2万小时 3、高压电源 ? 进口高压电源 ? 输出电压：0~50kv ? 灯丝电流：0~2ma ? 大功率：50w ? 纹波系数：0.1%（p-p值） ? 8小时稳定性：0.05% 3.4、摄像头 ? 微焦距 ? 免驱动 ? 500万像素 3.5、准直器、滤光片 ? 快拆卸准直器、滤光片系统 ? 多种材质准直器 ? 光斑大小φ0.7mm、φ1.2mm、φ3.0mm、φ5.0mm ? 多种滤光片、准直器组合，软件自动切换 李航民 0755-86219363-627